时间:2023-01-03 04:34:00
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SEM,均称扫描电镜,又称扫描电镜,英文名scanningelectronicmicroscopy.tem,均称透射电镜,英文名transming
差异:
SEM样品中激发的二次电子和背散射电子被采集并成像. TEM可以表征样品的质厚对比度,也可以表征样品的内晶格结构. TEM的分辨率比SEM稍高。
SEM样品的要求并不严格,但TEM样品观察的部分必须薄至100nm的厚度以下。 通常先制成直径3mm的薄片,再进行离子减薄或双喷(或要求厚度在20~40m以下的薄区)。
TEM可以标定晶格常数,确定物相结构; SEM主要可以标定某些元素的含量,但不能准确测定结构。
XRD可进行定性、定量分析。 也就是说,可以分析合金中的相成分和含量,测量晶格参数,测量结构方向、含量,测量材料的内应力、材料晶体大小等。 主要用于分析合金中的相成分和含量。
样品制备:
通常,要定量分析的样品细度在1微米左右,即通过320目筛。
SEM利用电子与物质的相互作用,可以获取被检体自身的各种物理、化学性质的信息,例如形态、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等。 主要利用二次电子信号成像观察样品的表面形貌。 也就是说,用极窄的电子束扫描试料,通过电子束与试料的相互作用产生各种各样的效果,其中主要是试料的二次电子发射。
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